PDL 800-D 皮秒半导体激光器驱动源
主要应用:
时间分辨荧光探测
荧光寿命成像(FLIM)
磷光寿命成像(PLIM)
荧光相关光谱(FCS/FLCS)
荧光共振能量转移(FRET)
受激辐射损耗显微(STED)
双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)
FluoFit Basic 多指数衰减分析软件
为荧光测量相关应用而研发的专业软件,主要负责分析荧光相关的测量结果。其功能主要为全局荧光衰减数据分析,有尾部拟合,荧光寿命,解卷积拟合等功能。支持分析多指数衰减,时间分辨荧光寿命,高斯型寿命分布,洛伦兹型寿命分布,广延指数型寿命分布。
产品特点:
拥有尾部拟合,迭代解卷积,max似然估计法等功能
max支持4阶指数衰减
各向异性分析
支持ASCII格式数据导入,及PicoQuant TCSPC和MCS模块,SPC和MSA数据的直接导入
易用型图像操作界面
主要应用:
时间分辨荧光探测
单线态氧研究
时间分辨磷光研究
荧光上转换
荧光各向异性研究