荧光寿命|东隆科技|单分子荧光寿命

荧光寿命|东隆科技|单分子荧光寿命由东隆科技提供。荧光寿命|东隆科技|单分子荧光寿命是武汉东隆科技有限公司()2013年全新升级推出的

WaferCheck 150半导体晶圆分析仪

WaferCheck 150半导体晶圆分析仪是一款测量半导体晶圆/太阳能电池的时间分辨光致发光(TRPL)的完整装置 荧光寿命武汉，操作简便。可以测量皮秒到微秒量级的半导体材料荧光寿命，为晶圆外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈。采用时间分辨光致发光TRPL技术获得各点的寿命均匀度来可用来分析控制晶圆、太阳能电池的质量，可为高效高质量生产提供可靠保证。

• 激发光源采用**短皮秒脉冲激光器（FWHM可达50ps） 细胞荧光寿命，波长375~810nm可选
• 使用时间相关单光子计数(TCSPC)的数据采集器PicoHarp 300
• MCP-PMT、PMT探测器可选
• 采用时间分辨光致发光TRPL技术获得各点的寿命均匀度来可用来分析控制晶圆、太阳能电池的质量 单分子荧光寿命，可为高效高质量生产提供可靠保证

TimeHarp200时间相关单光子计数PC板卡

TimeHarp 200 PC板卡用于皮秒时间分辨测量。可以直接连接扫描仪等外部硬件进行同步测量。

• 反向起止模式
• 每范围较多4096个时间指针，较小宽度<40ps
• 6个测量范围，较大到us
• 计数速率较大3百万次/秒
• 支持4通道寻址和荧光寿命显微成像
• TTTR模式记录每个单个事件