荧光寿命的测量,荧光寿命,东隆科技

PDL 800-D 皮秒半导体激光器驱动源

主要应用:

时间分辨荧光探测

荧光寿命成像(FLIM)

磷光寿命成像(PLIM)

荧光相关光谱(FCS/FLCS)

荧光共振能量转移(FRET)

受激辐射损耗显微(STED)

双聚焦荧光相关光谱(2fFCS)

FluoFit Basic 多指数衰减分析软件

为荧光测量相关应用而研发的专业软件，主要负责分析荧光相关的测量结果。其功能主要为全局荧光衰减数据分析，有尾部拟合，荧光寿命，解卷积拟合等功能。支持分析多指数衰减，时间分辨荧光寿命，高斯型寿命分布，洛伦兹型寿命分布，广延指数型寿命分布。

产品特点：

拥有尾部拟合，迭代解卷积，max似然估计法等功能

max支持4阶指数衰减

各向异性分析

支持ASCII格式数据导入，及PicoQuant TCSPC和MCS模块，SPC和MSA数据的直接导入

易用型图像操作界面

主要应用：

时间分辨荧光探测

单线态氧研究

时间分辨磷光研究

荧光上转换

荧光各向异性研究